Power-Constrained Testing of VLSI Circuits

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Frontiers in Electronic Testing, Volume 22B, Frontiers in Electronic Testing 22B

ISBN: 140207235X
ISBN 13: 9781402072352
Autor: Nicolici, Nicola/Al-Hashimi, Bashir M
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: xi, 178 S.
Erscheinungsdatum: 28.02.2003
Produktform: Gebunden/Hardback
Einband: Gebunden
Artikelnummer: 1504045 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


Springer Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

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