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InhaltsangabeSome Background on Soft Errors.- Estimation Models.- Radiation Immunity at Physical Design Level.- Soft Error Mitigation at Circuit Level.- Logic Level Reliability-Centric Gate Sizing.
Mitigation of Soft Errors in Nanoscale VLSI Circuits
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| ISBN: | 1441993371 |
|---|---|
| ISBN 13: | 9781441993373 |
| Autor: | Ranganathan, Nagarajan/Bhattacharya, Koustav |
| Verlag: | Springer Verlag GmbH |
| Umfang: | 200 S., 75 farbige Illustr. |
| Erscheinungsdatum: | 28.03.2014 |
| Auflage: | 1/2011 |
| Produktform: | Gebunden/Hardback |
| Einband: | GEB |
Reliability is a key concern in VLSI systems and transient/intermittent faults, often caused by soft errors, require designers to create special mitigation techniques. This book describes such techniques, spanning all levels of the design flow.
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