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69121 Heidelberg
DE
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Thermal Testing of Integrated Circuits
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| ISBN: | 144195287X |
|---|---|
| ISBN 13: | 9781441952875 |
| Autor: | Altet, J/Rubio, Antonio |
| Verlag: | Springer Verlag GmbH |
| Umfang: | xiv, 204 S., 102 s/w Illustr., 204 p. 102 illus. |
| Erscheinungsdatum: | 21.09.2011 |
| Auflage: | 1/2011 |
| Produktform: | Kartoniert |
| Einband: | Kartoniert |
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