Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits

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149,79 

ISBN: 9811347840
ISBN 13: 9789811347849
Autor: Jayanthy, S/Bhuvaneswari, M C
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: xi, 156 S., 42 s/w Illustr., 7 farbige Illustr., 156 p. 49 illus., 7 illus. in color.
Erscheinungsdatum: 21.12.2018
Auflage: 1/2019
Produktform: Kartoniert
Einband: Kartoniert
Artikelnummer: 7968573 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


Springer Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

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