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Strategies to Reduce Power during VLSI Circuit Testing
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Reduction of Dynamic and Leakage Power during Testing of Digital VLSI Circuits
| ISBN: | 3659255203 |
|---|---|
| ISBN 13: | 9783659255205 |
| Autor: | Kundu, Subhadip/Chattopadhyay, Santanu |
| Verlag: | LAP LAMBERT Academic Publishing |
| Umfang: | 116 S. |
| Erscheinungsdatum: | 03.10.2012 |
| Auflage: | 1/2012 |
| Format: | 0.8 x 22 x 15 |
| Gewicht: | 191 g |
| Produktform: | Kartoniert |
| Einband: | Kartoniert |
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