Delay Fault Testing for VLSI Circuits

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Frontiers in Electronic Testing 14

ISBN: 1461375614
ISBN 13: 9781461375616
Autor: Krstic, Angela/Kwang-Ting (Tim) Cheng
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: xii, 191 S., 2 s/w Illustr.
Erscheinungsdatum: 12.10.2012
Auflage: 1/2012
Produktform: Kartoniert
Einband: Kartoniert
Artikelnummer: 4539235 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


Springer Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

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