Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits

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Lecture Notes in Electrical Engineering 252

ISBN: 3319005324
ISBN 13: 9783319005324
Autor: Liu, Xiao/Xu, Qiang
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: xv, 108 S., 21 s/w Illustr., 38 farbige Illustr., 108 p. 59 illus., 38 illus. in color.
Erscheinungsdatum: 27.06.2013
Auflage: 1/2013
Produktform: Gebunden/Hardback
Einband: Gebunden
Artikelnummer: 4641617 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


Springer Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

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