Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits

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The Springer International Series in Engineering and Computer Science

ISBN: 1461364299
ISBN 13: 9781461364290
Autor: Leblebici, Yusuf/Sung-Mo (Steve) Kang
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: XVII, 212 S.
Erscheinungsdatum: 27.09.2012
Auflage: 1/2012
Produktform: Kartoniert
Einband: Kartoniert
Artikelnummer: 5498075 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


Springer Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

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