Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon

Lieferzeit: Lieferbar innerhalb 14 Tagen

320,99 

Computational Microelectronics

ISBN: 3709172047
ISBN 13: 9783709172049
Autor: Pichler, Peter
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: xxi, 554 S., 40 s/w Illustr., 554 p. 40 illus.
Erscheinungsdatum: 01.11.2012
Auflage: 1/2012
Produktform: Kartoniert
Einband: Kartoniert
Artikelnummer: 6599271 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


Springer Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

Das könnte Ihnen auch gefallen …