Study of Defect States in Silicon Carbide

Lieferzeit: Lieferbar innerhalb 14 Tagen

71,90 

ISBN: 3659432024
ISBN 13: 9783659432026
Autor: Patnaik, Padmaja/Mukhopadhyay, Gautam/Singh, Prabhakar P
Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing
Umfang: 200 S.
Erscheinungsdatum: 07.11.2013
Auflage: 1/2013
Format: 1.3 x 22 x 15
Gewicht: 316 g
Produktform: Kartoniert
Einband: Kartoniert
Artikelnummer: 5816699 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


OmniScriptum SRL
Str. Armeneasca 28/1, office 1
2012 Chisinau
MD

E-Mail: info@omniscriptum.com

Das könnte Ihnen auch gefallen …