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Point Defects in Semiconductors II
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Experimental Aspects, Springer Series in Solid-State Sciences 35
| ISBN: | 364281834X |
|---|---|
| ISBN 13: | 9783642818349 |
| Autor: | Bourgoin, J |
| Verlag: | Springer Verlag GmbH |
| Umfang: | xvi, 295 S. |
| Erscheinungsdatum: | 08.12.2011 |
| Auflage: | 1/2011 |
| Produktform: | Kartoniert |
| Einband: | Kartoniert |
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