Beschreibung
Dans cet ouvrage, nous avons travaillé sur le problème de la mise uvre des plans de contrôle dynamique au sein d'un environnement semi-conducteur multi-produits. Nous nous sommes focalisés sur le compromis entre le rendement et le temps de cycle, la réduction du nombre de contrôles sans valeur ajoutée, et l'optimisation de l'utilisation de la capacité de contrôle. Un revue de la littérature a tout d'abord été réalisée pour mieux cerner le problème. Ensuite, trois principales solutions ont été proposées. La première solution est basée sur un indicateur qui permet le traitement d'un grand volume de données et l'évaluation de plusieurs types de risques avec une très faible consommation des ressources informatiques. La deuxième solution est basée sur des algorithmes d'échantillonnage intelligents que nous avons développés pour permettre le choix en dynamique des meilleurs produits ou lots à contrôler. Et la troisième solution est un programme linéaire mixte en nombres entiers. L'originalité des travaux de cette thèse se trouve dans l'industrialisation des différentes solutions que nous avons proposées.
Autorenporträt
Né en 1985, Justin Nduhura est Docteur en Génie Industriel de l'école nationale supérieure de Mines de Saint-Etienne depuis 2012. Il possède un diplôme d'ingénieur en Informatique-Automatique-Electronique de l'école Polytechnique de Lille et possède un Master 2. Ses recherches portent sur l'optimisation des contrôles dans des milieux industriels.
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