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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching
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Application to Rough and Natural Surfaces, NanoScience and Technology
| ISBN: | 3540284052 |
|---|---|
| ISBN 13: | 9783540284055 |
| Autor: | Kaupp, Gerd |
| Verlag: | Springer Verlag GmbH |
| Umfang: | xii, 292 S. |
| Erscheinungsdatum: | 04.08.2006 |
| Auflage: | 1/2006 |
| Produktform: | Gebunden/Hardback |
| Einband: | Gebunden |
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