Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching

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Application to Rough and Natural Surfaces, NanoScience and Technology

ISBN: 3642066631
ISBN 13: 9783642066634
Autor: Kaupp, Gerd
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: xii, 292 S.
Erscheinungsdatum: 12.02.2010
Auflage: 1/2010
Produktform: Kartoniert
Einband: Kartoniert
Artikelnummer: 1564884 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


Springer Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

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