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69121 Heidelberg
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
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| ISBN: | 0792395514 |
|---|---|
| ISBN 13: | 9780792395515 |
| Autor: | Jian Cheng Zhang/Styblinski, M A |
| Verlag: | Springer Verlag GmbH |
| Umfang: | xvii, 234 S. |
| Erscheinungsdatum: | 28.02.1995 |
| Produktform: | Gebunden/Hardback |
| Einband: | Gebunden |
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