Stability of IGZO-based Thin-Film Transistor

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Stability and Temperature-Dependence Assessment of IGZO TFTs

ISBN: 3838399633
ISBN 13: 9783838399638
Autor: Hoshino, Ken/Wager, John
Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing
Umfang: 152 S.
Erscheinungsdatum: 08.09.2010
Auflage: 1/2010
Format: 1 x 22 x 15
Gewicht: 244 g
Produktform: Kartoniert
Einband: Kartoniert
Artikelnummer: 4740001 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


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22848 Norderstedt
DE

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