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69121 Heidelberg
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Nanometer Variation-Tolerant SRAM Statistical Design for Yield
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Circuits and Statistical Design for Yield
| ISBN: | 1461417481 |
|---|---|
| ISBN 13: | 9781461417484 |
| Autor: | Abu Rahma, Mohamed/Anis, Mohab |
| Verlag: | Springer Verlag GmbH |
| Umfang: | xvi, 172 S. |
| Erscheinungsdatum: | 27.09.2012 |
| Auflage: | 1/2013 |
| Produktform: | Gebunden/Hardback |
| Einband: | Gebunden |
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