La fiabilité des composants RF de puissance

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Étude de la fiabilité des transistors RF LDMOS de puissance en mode pulsé pour des applications hyperfréquences

ISBN: 3841794963
ISBN 13: 9783841794963
Autor: Gares, Mohamed
Verlag: Éditions universitaires européennes
Umfang: 248 S.
Erscheinungsdatum: 22.03.2012
Auflage: 1/2012
Format: 1.5 x 22 x 15
Gewicht: 387 g
Produktform: Kartoniert
Einband: Kartoniert
Artikelnummer: 4765956 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


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22848 Norderstedt
DE

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