Beschreibung
Avec lémergence dapplications millimétriques (radar automobile ou le WHDMI.), la fiabilité est devenue un enjeu extrêmement important pour lindustrie. Dans un émetteur/récepteur radio, les problèmes de fiabilité concernent principalement les transistors MOS intégrés dans les amplificateurs de puissance, compte-tenu des niveaux relativement élevé des puissances. Ces composants sont susceptibles de se détériorer fortement par le phénomène de linjection de porteurs chauds impactant lourdement les performances des amplificateurs. Ce travail concerne la conception et létude de la fiabilité de ces circuits en technologies CMOS avancées. Le livre est articulé autour de quatre chapitres. Les deux premiers chapitres concernent létude, la conception, la modélisation et la caractérisation des éléments actifs et passifs intégrés sur silicium et utilisés pour réaliser des amplificateurs de puissance aux fréquences millimétriques. Le troisième chapitre décrit les trois amplificateurs de puissance conçus et réalisés pour les tests de fiabilité. Le dernier chapitre propose une étude complète de la fiabilité de ces circuits jusquau calcul de leur temps de vie.
Autorenporträt
Thomas Quémerais est né à Guérande en France le 20 mai 1982. Il a obtenu son diplôme d'Ingénieur en Physique en 2007 et passé son doctorat en Optique et Microondes de l'Université de Grenoble (France) en 2010. Depuis 2010 il travaille pour la société STMicroelectronics.
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