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69121 Heidelberg
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Active Probe Atomic Force Microscopy
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A Practical Guide on Precision Instrumentation
| ISBN: | 3031442326 |
|---|---|
| ISBN 13: | 9783031442322 |
| Autor: | Xia, Fangzhou/Rangelow, Ivo W/Youcef-Toumi, Kamal |
| Verlag: | Springer Verlag GmbH |
| Umfang: | xxiv, 366 S., 13 s/w Illustr., 125 farbige Illustr., 366 p. 138 illus., 125 illus. in color. |
| Erscheinungsdatum: | 07.02.2024 |
| Auflage: | 1/2024 |
| Produktform: | Gebunden/Hardback |
| Einband: | Gebunden |
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