Beschreibung
Reports on hyperspectral imaging microscopy techniques for atomic layer mapping of two-dimensional materials
Herstellerkennzeichnung:
Shaker Verlag GmbH
Am Langen Graben 15a
52353 Düren
DE
E-Mail: info@shaker.de
Hyperspectral Imaging Microscopy for Atomic Layer Mapping of Two-Dimensional Materials
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Reports on Measurement and Sensor Systems
| ISBN: | 3844085173 |
|---|---|
| ISBN 13: | 9783844085174 |
| Autor: | Dong, Xingchen |
| Verlag: | Shaker Verlag GmbH |
| Umfang: | 173 S., 60 farbige Illustr., 60 Illustr. |
| Erscheinungsdatum: | 28.03.2022 |
| Auflage: | 1/2022 |
| Gewicht: | 260 g |
| Produktform: | Kartoniert |
| Einband: | Kartoniert |
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