Hyperspectral Imaging Microscopy for Atomic Layer Mapping of Two-Dimensional Materials

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Reports on Measurement and Sensor Systems

ISBN: 3844085173
ISBN 13: 9783844085174
Autor: Dong, Xingchen
Verlag: Shaker Verlag GmbH
Umfang: 173 S., 60 farbige Illustr., 60 Illustr.
Erscheinungsdatum: 28.03.2022
Auflage: 1/2022
Gewicht: 260 g
Produktform: Kartoniert
Einband: Kartoniert
Artikelnummer: 5212898 Kategorie:

Beschreibung

Reports on hyperspectral imaging microscopy techniques for atomic layer mapping of two-dimensional materials

Herstellerkennzeichnung:


Shaker Verlag GmbH
Am Langen Graben 15a
52353 Düren
DE

E-Mail: info@shaker.de

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