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Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization
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Atomic-Scale Structure Determination, Springer Tracts in Modern Physics 179
| ISBN: | 3540434437 |
|---|---|
| ISBN 13: | 9783540434436 |
| Autor: | Waseda, Yoshio |
| Verlag: | Springer Verlag GmbH |
| Umfang: | xiv, 214 S., 4 s/w Illustr., 4 s/w Fotos, 128 s/w Zeichng. |
| Erscheinungsdatum: | 11.09.2002 |
| Auflage: | 1/2002 |
| Produktform: | Gebunden/Hardback |
| Einband: | Gebunden |
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