Quantitative X-Ray Diffractometry

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ISBN: 1461395372
ISBN 13: 9781461395379
Autor: Zevin, Lev S/Kimmel, Giora
Herausgeber: Inez Mureinik
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: xvii, 372 S.
Erscheinungsdatum: 27.12.2011
Auflage: 1/2011
Produktform: Kartoniert
Einband: Kartoniert
Artikelnummer: 4153203 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


Springer Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

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