Thin Film Analysis by X-Ray Scattering

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Techniques for Structural Characterization

ISBN: 3527310525
ISBN 13: 9783527310524
Autor: Birkholz, Mario
Verlag: Wiley-VCH GmbH
Umfang: XXII, 356 S., 175 s/w Illustr., 28 s/w Tab., 203 Illustr.
Erscheinungsdatum: 26.10.2005
Auflage: 1/2005
Gewicht: 752 g
Produktform: Gebunden/Hardback
Einband: Gebunden
Artikelnummer: 1988465 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


Wiley-VCH GmbH
Boschstrasse 12
69469 Weinheim
DE

E-Mail: product_safety@wiley.com

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