Beschreibung
Dieses Buch befasst sich mit verschiedenen Werkzeugen zur Materialcharakterisierung mit Schwerpunkt auf Morphologie/Topologie und strukturellen Eigenschaften der Materialien. Im Kapitel über die morphologischen Charakterisierungswerkzeuge werden vor allem das Transmissionselektronenmikroskop (TEM), das Rasterelektronenmikroskop (SEM) und das Rasterkraftmikroskop (AFM) besprochen, während das Kapitel über die strukturelle Charakterisierung die Details des Röntgendiffraktometers (XRD), der Neutronenbeugung, des Ramanmikroskops und der Elektronenstrahlbeugung (SAED) enthält. Hier haben wir unser Bestes gegeben, um jedes Detail der experimentellen Techniken zu erklären, was für neue Lernende sehr hilfreich sein wird.
Autorenporträt
Dr. Vanaraj Solanki erwarb seinen Master in Physik (2008) an der S. P. University, VVNagar, und promovierte am Institute of Physics, Bhubaneswar, Indien. Während seiner Postdoc-Zeit arbeitete er auch am Materials Research Centre des Indian Institute of Science in Bangalore. Gegenwärtig arbeitet Dr. Solanki als wissenschaftlicher Mitarbeiter bei KRADLE, CHARUSAT, Changa.
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