Test Coverage Analysis

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A method for analyzing test coverage at a structural and functional level of a printed circuit board during the production process

ISBN: 383837388X
ISBN 13: 9783838373881
Autor: Paez, Francisco
Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing
Umfang: 136 S.
Erscheinungsdatum: 21.06.2010
Auflage: 1/2010
Format: 0.9 x 22 x 15
Gewicht: 221 g
Produktform: Kartoniert
Einband: Kartoniert
Artikelnummer: 4744325 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


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In de Tarpen 42
22848 Norderstedt
DE

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