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Advanced Test Methods for SRAMs
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Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
| ISBN: | 1441909370 |
|---|---|
| ISBN 13: | 9781441909374 |
| Verlag: | Springer Verlag GmbH |
| Umfang: | xv, 171 S. |
| Erscheinungsdatum: | 04.11.2009 |
| Weitere Autoren: | Bosio, Alberto/Dilillo, Luigi/Girard, Patrick et al |
| Auflage: | 1/2010 |
| Produktform: | Gebunden/Hardback |
| Einband: | Gebunden |
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