Advanced Test Methods for SRAMs

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Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies

ISBN: 1441909370
ISBN 13: 9781441909374
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: xv, 171 S.
Erscheinungsdatum: 04.11.2009
Weitere Autoren: Bosio, Alberto/Dilillo, Luigi/Girard, Patrick et al
Auflage: 1/2010
Produktform: Gebunden/Hardback
Einband: Gebunden
Artikelnummer: 1287137 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


Springer Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

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