Active Probe Atomic Force Microscopy

Lieferzeit: Lieferbar innerhalb 14 Tagen

69,54 

A Practical Guide on Precision Instrumentation

ISBN: 3031442350
ISBN 13: 9783031442353
Autor: Xia, Fangzhou/Rangelow, Ivo W/Youcef-Toumi, Kamal
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: xxiv, 366 S., 13 s/w Illustr., 125 farbige Illustr., 366 p. 138 illus., 125 illus. in color.
Erscheinungsdatum: 07.02.2025
Auflage: 1/2025
Produktform: Kartoniert
Einband: Kartoniert
Artikelnummer: 5574838 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


Springer Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

Das könnte Ihnen auch gefallen …