Energielücke einer Halbleiterdiode – Experiment

Lieferzeit: Lieferbar innerhalb 14 Tagen

43,90 

Experiment

ISBN: 6206534456
ISBN 13: 9786206534457
Autor: Ikkurti, Radhika
Verlag: Verlag Unser Wissen
Umfang: 56 S.
Erscheinungsdatum: 06.10.2023
Auflage: 1/2023
Format: 0.4 x 22 x 15
Gewicht: 102 g
Produktform: Kartoniert
Einband: Kartoniert
Artikelnummer: 973220 Kategorie:

Beschreibung

Es gibt eine kurze Zusammenfassung darüber, wie Energielücken gefunden werden und welche Anwendungen sie haben. Die Elektronendichte ist viel größer als die Lochdichte im Halbleiter vom n-Typ, dargestellt als ne >> nh, während die Lochdichte im Halbleiter vom p-Typ viel größer ist größer als die Elektronendichte: nh >> ne.In einem Halbleiter vom n-Typ liegt das Donatorenergieniveau nahe am Leitungsband und entfernt vom Valenzband. Im p-Typ-Halbleiter hingegen liegt das Energieniveau des Akzeptors nahe am Valenzband und vom Leitungsband entfernt.Die im p-Typ-Halbleiter hinzugefügte Verunreinigung sorgt für zusätzliche Löcher, die als Akzeptoratome bekannt sind, während die im n-Typ-Halbleiter hinzugefügte Verunreinigung zusätzliche Elektronen liefert, die als Donoratome bezeichnet werden.Das Fermi-Niveau des n-Typ-Halbleiters liegt zwischen dem Donor-Energieniveau und dem Leitungsband, während das des p-Typ-Halbleiters zwischen dem Akzeptor-Energieniveau und dem Valenzband liegt.Im p-Typ-Halbleiter bewegen sich die Mehrheitsträger vom höheren zum niedrigeren Potenzial, im Gegensatz zum n-Typ, wo sich die Mehrheitsträger vom niedrigeren zum höheren Potenzial bewegen.

Herstellerkennzeichnung:


BoD - Books on Demand
In de Tarpen 42
22848 Norderstedt
DE

E-Mail: info@bod.de

Das könnte Ihnen auch gefallen …