Scanning Capacitance Microscopy

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and Spectroscopy on Semiconductor Materials

ISBN: 3838102673
ISBN 13: 9783838102672
Autor: Brezna, Wolfgang
Verlag: Südwestdeutscher Verlag für
Umfang: 156 S.
Erscheinungsdatum: 16.07.2015
Auflage: 1/2015
Format: 1 x 22 x 15
Gewicht: 250 g
Produktform: Kartoniert
Einband: Kartoniert
Artikelnummer: 4738478 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


BoD - Books on Demand
In de Tarpen 42
22848 Norderstedt
DE

E-Mail: info@bod.de

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