Interfacial Compatibility in Microelectronics

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Moving Away from the Trial and Error Approach, Microsystems

ISBN: 1447124693
ISBN 13: 9781447124696
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: x, 218 S., 113 s/w Illustr., 15 farbige Illustr.
Erscheinungsdatum: 13.01.2012
Weitere Autoren: Laurila, Tomi/Vuorinen, Vesa/Paulasto-Kröckel, Mervi et al
Auflage: 1/2012
Produktform: Gebunden/Hardback
Einband: Gebunden
Artikelnummer: 1333923 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


Springer Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

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