Applied Scanning Probe Methods II

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Scanning Probe Microscopy Techniques, NanoScience and Technology

ISBN: 3540262423
ISBN 13: 9783540262428
Herausgeber: Bharat Bhushan/Harald Fuchs
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: xliii, 420 S.
Erscheinungsdatum: 21.02.2006
Auflage: 1/2006
Format: 2.3 x 24.2 x 16
Gewicht: 781 g
Produktform: Gebunden/Hardback
Einband: Gebunden
Artikelnummer: 1381489 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


Springer Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

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