Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

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Third Edition

ISBN: 0306472929
ISBN 13: 9780306472923
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: xix, 689 S.
Erscheinungsdatum: 31.01.2003
Weitere Autoren: Goldstein, Joseph/Newbury, Dale E/Joy, David C et al
Auflage: 3/2007
Format: 5 x 26 x 18.5
Gewicht: 1674 g
Produktform: Gebunden/Hardback
Einband: Gebunden
Artikelnummer: 1664474 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


Springer Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

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