Electron Microscopy of Nanotubes

Lieferzeit: Lieferbar innerhalb 14 Tagen

160,49 

ISBN: 1402073615
ISBN 13: 9781402073618
Autor: Wang, Zhong-lin/Hui, Chun
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: xiv, 310 S.
Erscheinungsdatum: 31.05.2003
Auflage: 1/2003
Produktform: Gebunden/Hardback
Einband: Gebunden
Artikelnummer: 6760374 Kategorie:

Beschreibung

InhaltsangabePreface. List of Contibutors. 1. Single walled carbon nanotubes; L.C. Qin. 2. Electron diffraction and microscopy of single-wall carbon nanotube bundles; J.F. Colomer, G.van Tendeloo. 3. Nanodiffraction of carbon nanotubes; J.M. Cowley. 4. The smallest carbon nanotubes; N. Wang. 5. EELS of carbon nanotubes and onions; T. Stöckli. 6. Carbon nanostructures under the electron beam: Formation of new structures and in-situ study of radiation-induced processes; S. Trasobares, P.M. Ajayan. 7. In-situ mechanical properties of nanotubes and nanowires; Z.l. Wang. 8. In-situ field emission of carbon nanotubes; Z.l. Wang. 9. In-situ electric transport of carbon nanotubes; Z.l. Wang. 10. Electron microscopy of boron nitride nanotubes; D. Golberg, Y. Bando. 11. Inorganic nanoparticles with fullerene-like structure and inorganic nanotubes; R. Tenne, R. Popovitz-Biro.

Herstellerkennzeichnung:


Springer Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

Das könnte Ihnen auch gefallen …