Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology

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NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry, Volume 2, NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry 2

ISBN: 0792366859
ISBN 13: 9780792366850
Herausgeber: Gianfranco Pacchioni/Linards Skuja/David L Griscom
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: viii, 624 S., 87 s/w Illustr., 624 p. 87 illus.
Erscheinungsdatum: 31.12.2000
Produktform: Gebunden/Hardback
Einband: Gebunden
Artikelnummer: 1428893 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


Springer Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

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