The Source/Drain Engineering of Nanoscale Germanium-based MOS Devices

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Springer Theses

ISBN: 3662570262
ISBN 13: 9783662570265
Autor: Li, Zhiqiang
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: xiv, 59 S., 3 s/w Illustr., 49 farbige Illustr., 59 p. 52 illus., 49 illus. in color.
Erscheinungsdatum: 07.06.2018
Auflage: 1/2016
Produktform: Kartoniert
Einband: Kartoniert

Nominated as an Excellent Doctoral Dissertation by Peking University in 2014Proposes innovative methods for addressing the challenges in the source/drain engineering of germanium nMOSFETsExperimentally demonstrates the methods‘ effectiveness with regard to reducing parasitic resistance in the source/drain of germanium nMOSFETsIncludes supplementary material: sn.pub/extras

Artikelnummer: 5459035 Kategorie:

Beschreibung

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Springer Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
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E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

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