Testing Static Random Access Memories

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Defects, Fault Models and Test Patterns, Frontiers in Electronic Testing 26

ISBN: 1402077521
ISBN 13: 9781402077524
Autor: Hamdioui, Said
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: xx, 221 S.
Erscheinungsdatum: 31.03.2004
Produktform: Gebunden/Hardback
Einband: Gebunden
Artikelnummer: 1446547 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


Springer Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

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