Testing Static Random Access Memories

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Defects, Fault Models and Test Patterns, Frontiers in Electronic Testing 26

ISBN: 1441954309
ISBN 13: 9781441954305
Autor: Hamdioui, Said
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: xx, 221 S.
Erscheinungsdatum: 09.12.2010
Auflage: 1/2010
Produktform: Kartoniert
Einband: Kartoniert
Artikelnummer: 1559229 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


Springer Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

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