Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs

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ISBN: 1461407877
ISBN 13: 9781461407874
Autor: Shen, Ruijing/Tan, Sheldon X -D/Yu, Hao
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: xxx, 306 S.
Erscheinungsdatum: 18.03.2012
Auflage: 1/2012
Produktform: Gebunden/Hardback
Einband: Gebunden
Artikelnummer: 1926064 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


Springer Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

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