Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip

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ISBN: 3031196414
ISBN 13: 9783031196416
Herausgeber: Patrick Girard/Shawn Blanton/Li-C Wang
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: xi, 316 S., 165 s/w Illustr., 316 p. 165 illus.
Erscheinungsdatum: 14.03.2024
Auflage: 1/2024
Produktform: Kartoniert
Einband: Kartoniert
Artikelnummer: 2941304 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


Springer Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

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