Investigation on SiGe Selective Epitaxy for Source and Drain Engineering in 22 nm CMOS Technology Node and Beyond

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Springer Theses

ISBN: 9811500452
ISBN 13: 9789811500459
Autor: Wang, Guilei
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: xvi, 115 S.
Erscheinungsdatum: 02.10.2019
Auflage: 1/2020
Produktform: Gebunden/Hardback
Einband: GEB
Artikelnummer: 7854196 Kategorie:

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