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69121 Heidelberg
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Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs
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| ISBN: | 3319023772 |
|---|---|
| ISBN 13: | 9783319023779 |
| Autor: | Noia, Brandon/Chakrabarty, Krishnendu |
| Verlag: | Springer Verlag GmbH |
| Umfang: | xviii, 245 S., 18 s/w Illustr., 115 farbige Illustr., 245 p. 133 illus., 115 illus. in color. |
| Erscheinungsdatum: | 02.12.2013 |
| Auflage: | 1/2014 |
| Produktform: | Gebunden/Hardback |
| Einband: | Gebunden |
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