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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
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Frontiers in Electronic Testing 34
| ISBN: | 1441942858 |
|---|---|
| ISBN 13: | 9781441942852 |
| Autor: | Sachdev, Manoj/Pineda de Gyvez, José |
| Verlag: | Springer Verlag GmbH |
| Umfang: | xxi, 328 S. |
| Erscheinungsdatum: | 10.11.2010 |
| Auflage: | 2/2007 |
| Produktform: | Kartoniert |
| Einband: | Kartoniert |
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