Deep Learning for Advanced X-ray Detection and Imaging Applications

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139,09 

ISBN: 3031756525
ISBN 13: 9783031756528
Herausgeber: Krzysztof (Kris) Iniewski/Liang (Kevin) Cai
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: vii, 261 S., 75 farbige Illustr., 261 p. 75 illus. in color.
Erscheinungsdatum: 23.01.2025
Auflage: 1/2025
Produktform: Gebunden/Hardback
Einband: Gebunden
Artikelnummer: 4491138 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


Springer Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

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