CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

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Process-Aware SRAM Design and Test, Frontiers in Electronic Testing 40

ISBN: 1402083629
ISBN 13: 9781402083624
Autor: Pavlov, Andrei/Sachdev, Manoj
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: xvi, 194 S.
Erscheinungsdatum: 21.06.2008
Auflage: 1/2008
Produktform: Gebunden/Hardback
Einband: Gebunden
Artikelnummer: 1784304 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


Springer Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

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