LabVIEW Run Four Point Probe Device

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Electrical Characterization of Semiconducting Thin Films made easy by Four Point Probe System controlled by LabVIEW

ISBN: 3659134821
ISBN 13: 9783659134821
Autor: Agumba, John/Karimi, Patrick/Okumu, John
Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing
Umfang: 140 S.
Erscheinungsdatum: 19.07.2012
Auflage: 1/2012
Format: 0.9 x 22 x 15
Gewicht: 227 g
Produktform: Kartoniert
Einband: Kartoniert
Artikelnummer: 3909386 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


OmniScriptum SRL
Str. Armeneasca 28/1, office 1
2012 Chisinau
MD

E-Mail: info@omniscriptum.com

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