X-Ray Multiple-Wave Diffraction

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Theory and Application, Springer Series in Solid-State Sciences 143

ISBN: 3642059473
ISBN 13: 9783642059476
Autor: Chang, Shih-Lin
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: xii, 436 S., 182 s/w Illustr.
Erscheinungsdatum: 05.12.2010
Auflage: 1/2010
Produktform: Kartoniert
Einband: Kartoniert
Artikelnummer: 1576624 Kategorie:

Beschreibung

Herstellerkennzeichnung:


Springer Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

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