Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition

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Joint IAPR International Workshops, S+SSPR 2022, Montreal, QC, Canada, August 26-27,2022, Proceedings, Lecture Notes in Computer Science 13813

ISBN: 3031230272
ISBN 13: 9783031230271
Herausgeber: Adam Krzyzak/Ching Y Suen/Andrea Torsello et al
Verlag: Springer Verlag GmbH
Umfang: xiii, 324 S., 25 s/w Illustr., 93 farbige Illustr., 324 p. 118 illus., 93 illus. in color.
Erscheinungsdatum: 02.01.2023
Auflage: 1/2022
Produktform: Kartoniert
Einband: Kartoniert
Artikelnummer: 7412339 Kategorie:

Beschreibung

This book constitutes the proceedings of the Joint IAPR International Workshop on Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition, S+SSPR 2022, held in Montreal, QC, Canada, in August 2022.The 30 papers together with 2 invited talks presented in this volume were carefully reviewed and selected from 50 submissions. The workshops presents papers on topics such as deep learning, processing, computer vision, machine learning and pattern recognition and much more.

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69121 Heidelberg
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E-Mail: juergen.hartmann@springer.com

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