Structure Analysis of Advanced Nanomaterials

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Nanoworld by High-Resolution Electron Microscopy

ISBN: 3110304724
ISBN 13: 9783110304725
Autor: Oku, Takeo
Verlag: De Gruyter GmbH
Umfang: X, 168 S., 94 s/w Illustr., 21 s/w Tab., 94 b/w ill., 21 b/w tbl.
Erscheinungsdatum: 15.09.2014
Auflage: 1/2014
Format: 1.2 x 24.5 x 17.5
Gewicht: 489 g
Produktform: Gebunden/Hardback
Einband: GEB
Artikelnummer: 4396148 Kategorie:

Beschreibung

High-resolution electron microscopy allows the imaging of the crystallographic structure of a sample at an atomic scale. It is a valuable tool to study nanoscale properties of crystalline materials such as superconductors, semiconductors, solar cells, zeolite materials, carbon nanomaterials or BN nanotubes.

Autorenporträt

Takeo Oku, The University of Shiga Prefecture, Japan.

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