Statistik und Ökonometrie für Wirtschaftswissenschaftler

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Eine anwendungsorientierte Einführung, Springer-Lehrbuch

ISBN: 3658301368
ISBN 13: 9783658301361
Autor: Auer, Benjamin/Rottmann, Horst
Verlag: Springer Gabler
Umfang: xxvii, 764 S., 198 s/w Illustr., 764 S. 198 Abb.
Erscheinungsdatum: 23.06.2020
Auflage: 4/2020
Format: 4.5 x 24 x 16.8
Gewicht: 1329 g
Produktform: Kartoniert
Einband: Kartoniert

Das vorliegende Werk umfasst das gesamte statistische und ökonometrische Grundwissen, das für ein wirtschaftswissenschaftliches Studium benötigt wird. Verständlich und präzise werden an zahlreichen Beispielen die verschiedenen statistischen und ökonometrischen Herangehensweisen erklärt.Anhand verschiedenster Praxisfälle mit Musterlösungen und unter Einsatz der Software EViews, STaTa und Excel werden die Inhalte greifbar, mittels zahlreicher Aufgaben wird die Anwendung des erlernten Wissens trainiert. Durch die geschickte Auswahl und Darstellung des Stoffs wird dabei das notwendige Know-how zum erfolgreichen Meistern von empirischen Fragestellungen in Bachelor- und Masterarbeiten vermittelt.Online finden Sie unter www.statistik-auer-rottmann.de weiteres Übungsmaterial zur Vertiefung des Stoffes sowie zahlreiche Excel-Tools, EViews- und STaTa-Datensätze. Der Ökonometrieteil der 4. Auflage wurde vollständig überarbeitet und um verschiedene Aspekte der ökonometrischen Theorie (z. B. strikte Exogenität) und der Zeitreihenanalyse (z. B. Beseitigung von Störtermautokorrelation durch verzögert endogene Variablen, dynamische OLS-Schätzung bei Kointegration, Mincer-Zarnowitz-Regression zur Prognosegütebeurteilung) erweitert.Der Inhalt- Deskriptive Statistik- Wahrscheinlichkeitsrechnung- Induktive Statistik- Einführung in die ÖkonometrieDie AutorenProf. Dr. Benjamin Auer ist Professor für Investition und Finanzierung an der Brandenburgischen Technischen Universität Cottbus-Senftenberg. Des Weiteren ist er Lehrbeauftragter an der Universität Leipzig und Research Affiliate der CESifo Gruppe München.Prof. Dr. Horst Rottmann ist Professor für Statistik und Volkswirtschaft an der Ostbayerischen Technischen Hochschule Amberg-Weiden. Des Weiteren ist er Forschungsprofessor am ifo Institut – Leibniz-Institut für Wirtschaftsforschung an der Universität München.

Artikelnummer: 9378950 Kategorie:

Beschreibung

Das vorliegende Werk umfasst das gesamte statistische und ökonometrische Grundwissen, das für ein wirtschaftswissenschaftliches Studium benötigt wird. Verständlich und präzise werden an zahlreichen Beispielen die verschiedenen statistischen und ökonometrischen Herangehensweisen erklärt.Anhand verschiedenster Praxisfälle mit Musterlösungen und unter Einsatz der Software EViews, STaTa und Excel werden die Inhalte greifbar, mittels zahlreicher Aufgaben wird die Anwendung des erlernten Wissens trainiert. Durch die geschickte Auswahl und Darstellung des Stoffs wird dabei das notwendige Know-how zum erfolgreichen Meistern von empirischen Fragestellungen in Bachelor- und Masterarbeiten vermittelt.Online finden Sie unter www.statistik-auer-rottmann.de weiteres Übungsmaterial zur Vertiefung des Stoffes sowie zahlreiche Excel-Tools, EViews- und STaTa-Datensätze. Der Ökonometrieteil der 4. Auflage wurde vollständig überarbeitet und um verschiedene Aspekte der ökonometrischen Theorie (z. B. strikte Exogenität) und der Zeitreihenanalyse (z. B. Beseitigung von Störtermautokorrelation durch verzögert endogene Variablen, dynamische OLS-Schätzung bei Kointegration, Mincer-Zarnowitz-Regression zur Prognosegütebeurteilung) erweitert.

Autorenporträt

Prof. Dr. Benjamin Auer ist Professor für Investition und Finanzierung an der Brandenburgischen Technischen Universität Cottbus-Senftenberg. Des Weiteren ist er Lehrbeauftragter an der Universität Leipzig und Research Affiliate der CESifo Gruppe München. Prof. Dr. Horst Rottmann ist Professor für Statistik und Volkswirtschaft an der Ostbayerischen Technischen Hochschule Amberg-Weiden. Des Weiteren ist er Forschungsprofessor am ifo Institut - Leibniz-Institut für Wirtschaftsforschung an der Universität München.

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